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在这种情况下,不是陶瓷电容器的“公差”超标

作者:YWYF 日期:2020-10-13 浏览:142

立即打开此情况,不是陶瓷电容器“公差”超过标准,而是您测量到错误~

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请注意,这种程度的变化是很常见的,所示部件在这方面与同类产品没有明显区别。不过,产品厂家非常贴心,以特征表的形式清晰地展示了具体部件的特性。

温度:下图显示了具有不同温度特性的一系列电容器的电容随温度变化的几个示例。除第1类介质(C0G)电容器外,在那些工作温度有显著变化的应用中,预期最小变化约为10%。请注意,该图仅说明了温度的影响:其他因素也会进一步增加观测到的电容的变化。同样,对于那些认为规定的“容忍度”是一个整体概念的人来说,这可能是一个不受欢迎的意想不到的现实。

时间:最后,陶瓷电容器(也不包括类型1介质)将老化,即从上次加热到材料的特定温度,随着时间的推移,其电容将逐渐降低。这种加热通常发生在初始制造阶段,也可能发生在组装阶段。这种影响的程度取决于材料,而且是累积的,通常每十倍高达几个百分点。时间因素可以增加或掩盖其他因素对观测电容的影响(视情况而定)。在任何情况下,当“公差”被误解为总范围时,这本身就会导致电容器的行为超出公差范围。

综上所述,我们可以得出这样的结论:

“公差”只代表影响陶瓷电容观测值的一个因素,而不是所有因素的总和。

这些其他因素的影响可能远远大于指定的容差值。但是,这不能视为产品缺陷或不符合产品规格。

使用的测试信号、元件的温度以及元件最后一次去老化后的时间将影响陶瓷电容器的观察电容。所有这些因素都必须满足制造商的测试条件,才能进行有效的电容测量,最终确定电容是否符合制造商的规格。

许多万用表上的电容测量功能并不能有效地确定产品是否符合厂家的规格。

如果您需要已知稳定的电容器,则无需考虑基于1类介质的陶瓷电容器(最常见的是C0G或NP0)。

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